개방형 및 플랫폼 기반, 모듈형 계측기 등에 통합

NI(www.ni.com)는 반도체 테스트 비용을 절감하는 ‘NI STS(Semiconductor Test System) 시리즈’를 출시했다. PXI 기반 자동화 테스트 시스템은 반도체 생산 테스트 환경에서 NI PXI 모듈을 사용함으로써 RF 및 아날로그/디지털 혼합 신호 기기의 테스트 비용을 절감한다. NI STS는 반도체 개발 및 생산 파트에서 비용절감과 효율성 향상에 기여한다.
특히, 개방형 모듈형의 STS는 엔지니어들이 기존의 폐쇄형 구조를 갖고 있는 ATE와는 달리 최첨단의 PXI 장비를 사용할 수 있게 한다. 이는 최신 반도체 기술들의 필요조건들이 기존의 ATE가 제공하는 테스트 범위를 벗어나기 때문에 RF와 혼합 신호 테스트에 특히 중요하다. 테스트 관리 소프트웨어인 TestStand와 시스템 설계 소프트웨어인 LabVIEW로 운영되는 STS는 사용자 환경에 맞춤 가능한 운영자 인터페이스, 관리자/ 탐색자 통합, 핀 채널 맵핑을 통한 기기중심 프로그래밍, 표준 테스트 데이터 포맷(STDF) 보고와 내장된 다중멀티사이트 테스트 지원 등을 비롯한 반도체 생산 환경을 위한 다양한 장점들을 갖고 있다. 이러한 장점들은 엔지니어들이 신속한 테스트 프로그램 개발, 디버그 및 배치를 도와준다. STS는 완벽한 ‘zero-footprint’ 테스트 헤드와 표준 인터페이스 및 도킹 기술을 통해 반도체 생산 테스트 셀에 통합 될 수 있다. STS 시리즈는 각각의 PXI 본체 1,2,4 에 맞는 세 가지 모델 T1, T2, T4로 이루어져 있다.