국산 플라잉 프로브 테스터(Flying Probe Tester)의 탐침 속도가 빨라지고 있다. 플라잉 프로브 시험장비 전문업체인 (주)에머릭스는 기존 자사모델대비 프로브 탐침 속도를 20% 정도 단축한 신규 모델 ‘TK-2Xe’를 출시하였다. 이 회사 측은, “현재 플라잉 프로브 시장의 needs는 명확하다. ‘더욱 빠르고, 더욱 정확한’ 설비를 원하고 있다. 신규 모델은 고객의 눈높이에 한 발 더 다가가는 설비”라고 설명한 후, “고속으로 구동하면서 진동에 강한 부품을 채택하였고, 여기에 에머릭스만의 플라잉 프로브 관련 기술을 접목시켜 ‘탐침 속도 단축’과 ‘검출력 증대’를 이뤄냈다”고 밝혔다. 이 회사는 지난 6월 부산 벡스코(BEXCO)에서 열렸던 ‘2021 부산국제철도기술산업전’에서 새로운 설비를 최초로 공개하여 큰 이목을 끌었다. 

 

‘TK-2Xe’, 속도와 검출력 증대 ‘동시에’ 이뤄                  

 

(주)에머릭스는 프로브 구동용 모터를 최상급의 리니어모터로 변경하여 속도 단축과 검출력 향상을 이뤄냈다. 이 회사에서는 “최상급의 리니어모터 채택과 더불어 해당 모터가 최대의 효율을 낼 수 있게 하는 에머릭스만의 프로브 관련 기술력을 결합하였다. 고속의 움직임을 확보하였음은 물론 감속/가속 시에 발생하는 진동을 현저하게 줄일 수 있었다”면서, “이로 인해 스케일의 정확도가 월등히 상승하였다. 초당 7~8회의 빠른 속도로 탐침 테스트하고, 탐침 오차율도 현저하게 낮아졌다. 더불어 내부적인 소프트웨어와 계측 능력을 업그레이드시켜 검측능력도 한 단계 진일보시켰다”고 자랑했다. 

올인원 개념의 전기적 특성 고속 시험 장비인 ‘TK-2Xe’는 모든 부품 단위에 필요한 핵심적인 시험 솔루션이 기본으로 탑재되어 있다. ▶ Vision Test, ▶ VI Impedance Test, ▶ Open & Short Test, ▶ In-Circuit Measurement, ▶ 전압/전류 Test 등의 기능 테스트를 복합적으로 수행한다. 

비전 패턴매칭 알고리즘을 통해 부품의 역삽, 오삽 및 미삽 유무를 검출하고, 전원을 인가하지 않은 상태에서 VCF(Voltage, Current, Frequency) 조합의 VI 인피던스를 측정해 불량을 검출해 낸다. 또한 보드의 단락과 단선 측정뿐만 아니라 보드의 실장 부품의 용량(Value - R, L, C, D, TR) 값 측정하여 양품과 불량 여부를 검출한다. 제품의 전원부와 커넥팅 방식을 통하여 전원을 인가하고, 각 테스트 포인트와 GND 간의 전압을 측정해 전원 불량을 검출한다. 인가된 전원의 전류 변화량을 모니터링하여 전원 불량을 식별해 낸다. 

(주)에머릭스 관계자는 “신규 TK-X2e 모델은 생산성과 검출력 증대가 필요한 고객들에게 더 높은 만족감을 선사할 것”이라고 말하면서, “생산현장 중심의 신규 모델 개발연구에 더욱 매진하여 글로벌 시장에서 한국산 플라잉 프로브 테스터의 우수성을 알려 나갈 방침”이다고 포부를 밝혔다.